Esimerkkikartoitus

Asiakkaan toimittaman fyysisen näytteen perusteella (vaikka kyseessä olisikin kulunut tai murtunut käytetty osa) tarjoamme täyden valikoiman palveluita fyysisen rakenteen käänteissuunnittelusta materiaalitason fysikaalis-kemialliseen karakterisointiin. Puolijohdeluokan erittäin tarkkoja tarkastuslaitteita hyödyntäen mittaamme tarkasti monimutkaiset 3D-geometriset rakenteet, pinnoitteen/substraatin rajapinnan ominaisuudet ja materiaalin fyysiset parametrit varmistaen, että käänteinen tuote täyttää tai ylittää OEM-standardit fyysisen sopivuuden, prosessien yhteensopivuuden ja käyttöiän suhteen (Form-Fit-Function Replacement).

Mitä mittaamme (tekniset toimitukset):

• Mitta- ja geometriset toleranssit:Hyödynnämme korkean tarkkuuden koordinaattimittauslaitteita (CMM) ja optisia 3D-skannereita, suoritamme täysikokoisen pistepilvimallinnuksen ja monimutkaisten onkalorakenteiden sekä asennus-/paikannusreikien rekonstruoinnin, jolloin saavutetaan mikronitason tarkkuus.
• Pinnan mikromorfologia ja tasaisuus:Valkoisen valon interferometrien ja optisten profilometrien käyttö nanometrin mittakaavan pinnan karheuden (Ra) ja laajan alueen tasaisuuden arvioimiseksi, mikä täyttää kiekkojen käsittely- ja kammiotiivistysvaatimukset.
• Edgen mikroominaisuudet:Reunan R-säteiden ja viisteisten mikroprofiilien suurennoskartoitus pinnoitteen nousumorfologian optimoimiseksi ja jännityksen keskittymisen välttämiseksi terävissä kulmissa, jotka voivat aiheuttaa korkean lämpötilan delaminaatiota.
• Grafiittisubstraatin ja termisen yhteensopivuuden analyysi:Erittäin puhtaan grafiittisubstraatin tiheyden, raekoon ja lämpölaajenemiskertoimen (CTE) arviointi, jotta varmistetaan lämpöjännityksen yhteensopivuus alustan ja CVD-pinnoitteen välillä.
• Pinnoitteen poikkileikkaus ja rajapinnan liimauslaatu:Tuhoamaton XRF- ja metallografinen poikkileikkauksen SEM-analyysi absoluuttisen paksuuden, CVD-pinnoitteen säteittäisen tasaisuuden ja rajapinnan tunkeutumissyvyyden mittaamiseksi.
• Vaiherakenne ja mikrokideanalyysi:CVD SiC:n kuutiofaasin (β-SiC) puhtauden XRD-arviointi; CVD TaC:n kemiallisen stoikiometrian ja kiderakenteen ominaisuuksien kvalitatiivinen arviointi.

Real Case ja asiakasedut (kokemus):

12 tuuman puolijohdeetsauskomponentin asiakas:OEM-toimitus lopetettu; vain yksi kulunut käytetty osa oli saatavilla. CMM-käänteismallinnuksen + SEM-pinnoitteen poikkileikkausanalyysin avulla saimme korvaavien osien kehittämisen ja työkalutestauksen päätökseen 2 kuukauden sisällä ilman alkuperäisiä piirustuksia, jolloin saavutimme 100 %:n asennussovituksen. Lopulta komponenttien hankintasykli lyhennettiin alkuperäisestä 6 kuukauden tuonnin läpimenoajasta 2 kuukauteen, yksikköhankintakustannukset laskivat 42 %, ja tätä mallia on toimitettu vakaasti yli 30 erälle.

Piikarbidipinnoite (SiC) SEM-pinnoitteen poikkileikkauksella

FAQ

Aloita eksklusiivinen palvelusi nyt